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FIB(Scios 1)

功能介绍

机台位于深圳务实研究院,配备有STEM探头,EBSD探头以及同轴TKD探头,可开展晶体取向表征、三维重构形貌表征、FIB微纳加工以及制备TEM/APT样品,欢迎来现场进行测试。

合作方式
项目合作
测试合作
平台/硬件型号或软件版本
Thermo Scientific Scios 2
案例 1

制备TEM样品:lift out常规操作,薄区均匀,Wu保护样品最表层不受损伤

案例 2

原位拉伸样品加工

案例 3

采用同轴TKD对残余奥氏体钢中的微纳结构进行表征(未去噪,步长5 nm)