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场发射SEM/EBSD(7200F)

功能介绍

设备简介:JEOL 7200F配备ECCI探头、EDS和EBSD探测器,可以高效率开展检测工作

合作方式
平台/硬件型号或软件版本
JEOL 7200F
案例 1

SEM本来也好像没有多少可以介绍的。

二次电子成像+ECCI成像模式,前者拍10-20nm的颗粒好像没啥难度,后者是本台电镜的一个特色,EECI的效果非常好(详见下图案例)。

此外,配备有EDS+EBSD附件,可以高效率提供相关测试工作。

Q1: 这台SEM可以测试磁性样品吗?

A1: 不可以测试磁性粉末样品。