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场发射TEM(F20)

功能介绍

设备简介: 配备全新EDS和EELS探头,开展高分辨TEM、STEM-HAADF、EFTEM成像,是一款最常用的高分辨电子显微镜。

合作方式
平台/硬件型号或软件版本
FEI Tecnai F20
案例 1

1、前言



截止2022年5月20日,我们的电镜已经安装完毕。除了EELS部分的调试工作还未完成外,其他安装工作均已完成。此台设备的安装过程,我们进行了B站全网直播,第一次向社会大众展示高端电子显微镜的安装过程。



TEM自主安装过程的部分视频,在B站上有回放,感兴趣的欢迎点击视频链接:

《场发射TEM安装视频》



2、设备配置与技术参数



加速电压: 200 kV

高分辨极靴 (S-TWIN)

放大倍数:25-1,000,000

点分辨率:0.24nm

线分辨率:0.14nm;

STEM分辨率:优于0.2 nm

电子束能量色散:< 0.7eV

全新牛津能谱仪 (EDS):5B~92U;能量分辨率:~136eV

样品最大倾斜角:±40度



3、仪器选件及功能

X射线能谱仪(EDS)(用于样品成分分析)

电子能量损失谱 (EELS)(用于元素价态分析)

STEM和HAADF探头(用于测试STEM-HAADF暗场像,并于EDS结合测试点、线、面的元素分布)

双倾样品杆(用于测量需要两个方向倾转的样品)



4、检测项目

低倍形貌像、高分辨像、选区电子衍射、暗场像、成分分析、元素分布、价态分析和元素过滤像。



5、检测标准

JY/T 011-1996 透射电子显微镜方法通则