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场发射TEM (F30)

功能介绍

设备简介: 兼具300KV和100KV超高分辨率,配备EDS和各类TEM原位样品杆:加热、力学、通电。

合作方式
平台/硬件型号或软件版本
FEI Tecnai F30
案例 1

2021年国庆期间,这台300KV场发射电子显微镜,跨越千山万水,来到我们实验室,由于分辨率指标很高,成为了我们的对外合作与开展测试服务的主要设备之一。

这台设备的功能齐全,含STEM-HAADF, Oxford EDS, Nanomegas Precession electron diffraction, Orientation mapping in TEM, In situ TEM tests: tensile, compression, bending and heating.

TEM原位测试是这台电镜的一个拓展功能,应用非常广泛。
Q1: 这台电镜可以测试磁性样品吗?

A1: 可以测试磁性块体或者FIB制备的磁性样品,不接受磁性粉末样品的测试;磁性粉末需要离子FIB制样,额外收取制样费用,则可安排测试。



Q2:现场测试试与委托测试有何区别?

A2:现场测试强调客户的实时参与和互动性,预约我们的机时+技术人员,按照时间收费,

        现场测试不接受任何理由的免费补测。

        委托测试则由客户提供测试要求,我们评估测试要求后统一报价,在保障客户的权益方面,我们从制样-测试-数据处理各环节保障其预期的结果。简单的说:现场测试时,客户自己为测试内容及结果质量负责,严格按照机时付费;委托测试则将测试结果的质量以委托的形式将由我方,我们对测试结果和研究目的负责(不合理的要求另当别论)。



Q3: 可以来现场测试吗?

A3: 欢迎各单位人员前来现场测试,不能来现场的也可以通过远程视频测试。